Mittausanalysaattori säteiden ja fokusoitujen pisteiden optisten parametrien analysointiin ja mittaamiseen.Se koostuu optisesta osoitinyksiköstä, optisesta vaimennusyksiköstä, lämpökäsittelyyksiköstä ja optisesta kuvantamisyksiköstä.Se on myös varustettu ohjelmistoanalyysiominaisuuksilla ja tarjoaa testiraportteja.
(1) Eri indikaattoreiden dynaaminen analyysi (energian jakautuminen, huipputeho, elliptisyys, M2, pisteen koko) tarkennusalueen sisällä;
(2) Laaja aallonpituusvastealue UV:stä IR:ään (190nm-1550nm);
(3) Monipiste, määrällinen, helppokäyttöinen;
(4) Korkea vauriokynnys 500 W:n keskimääräiseen tehoon;
(5) Erittäin korkea resoluutio jopa 2,2 um.
Yhden säteen tai monisäteen ja säteen tarkennusparametrien mittaukseen.
| Malli | FSA500 |
| Aallonpituus (nm) | 300-1100 |
| NA | ≤0,13 |
| Sisääntulopupillin asennon pisteen halkaisija (mm) | ≤17 |
| Keskimääräinen teho(W) | 1-500 |
| Valoherkkä koko (mm) | 5,7x4,3 |
| Mitattavissa olevan pisteen halkaisija (mm) | 0,02-4,3 |
| Kuvataajuus (fps) | 14 |
| Liitin | USB 3.0 |
Testattavan säteen aallonpituusalue on 300-1100nm, keskimääräinen säteen tehoalue 1-500W ja mitattavan fokusoidun pisteen halkaisija on vähintään 20 μm - 4,3 mm.
Käytön aikana käyttäjä siirtää moduulia tai valonlähdettä löytääkseen parhaan testiasennon ja käyttää sitten järjestelmän sisäänrakennettua ohjelmistoa tietojen mittaamiseen ja analysointiin.Ohjelmisto voi näyttää valopisteen poikkileikkauksen kaksiulotteisen tai kolmiulotteisen intensiteetin jakautumisen sovituskaavion, ja se voi myös näyttää kvantitatiivisia tietoja, kuten valopisteen koon, elliptisyyden, suhteellisen sijainnin ja intensiteetin valopisteessä. -ulotteinen suunta.Samalla säde M2 voidaan mitata manuaalisesti.
